Revista de ingeniería informática y tecnología de la información

Circuitos simples que utilizan modelos de regresión

Stefan Salvator*

El objetivo de este artículo es identificar fallas paramétricas en circuitos simples de múltiples entradas al abordar los coeficientes de un modelo de recaída polinomial utilizando estrategias de mínimos cuadrados directos convencionales, con alguna consideración aplicada en el arreglo. El rendimiento del circuito de múltiples entradas se comunica en cuanto a más de un factor de información utilizando coeficientes polinomiales. En el enfoque propuesto, el valor de cada parte del circuito bajo prueba (CUT) se mide dentro de su límite de resistencia utilizando la reproducción de Monte-Carlo para determinar sus límites de coeficiente polinomial libre de fallas. Luego, el CUT se proclama libre de fallas o dañado según el resultado de la comparación de sus coeficientes polinomiales evaluados con los coeficientes libres de fallas. Hasta donde sabemos, el reconocimiento paramétrico de fallas en circuitos simples de múltiples entradas utilizando la demostración de recaída polinomial se intenta sin precedentes para el escrito. La idoneidad de la estrategia propuesta se demuestra mediante dos investigaciones contextuales, en particular, un circuito de holgura de avance y el compensador PI de un convertidor de conmutación tipo reductor controlado por modo de corriente máxima.