Revista de nanomateriales y nanotecnología molecular

Efectos dimensionales clásicos y topológicos en películas delgadas de SnO2 detectados mediante la técnica de resonancia de plasmón superficial

Grinevich VS, Filevskaya LN, Maximenko LS, Matyash IE, Mischuk ON, Rudenko SP, Serdega BK y Smyntyna VA

Efectos dimensionales clásicos y topológicos en películas delgadas de SnO _{2 detectados mediante la técnica de resonancia de plasmón superficial}

Las características de reflexión interna causadas por la resonancia plasmónica superficial en películas a escala nanométrica que contienen cúmulos defectuosos de dióxido de estaño en la matriz dieléctrica estequiométrica se estudian por medio de la modulación de polarización de la radiación electromagnética. Las características angulares y espectrales de las reflectancias R _s ² y R _ρ ² de la radiación polarizada s y p y su diferencia de polarización ρ = R _s ² – _{R ρ} ² se miden en el rango de longitud de onda λ = 400-1600 nm. Las características experimentales obtenidas ρ(θ, λ) (θ es el ángulo de incidencia de la radiación) representan las características de las propiedades ópticas asociadas con la estructura y la morfología de la película. Se detectan los polaritones plasmónicos superficiales y los plasmones locales excitados por la radiación polarizada s y p; se determinan sus propiedades de frecuencia y relajación. La técnica empleada para estudiar la resonancia plasmónica superficial en películas de dióxido de estaño parece ser estructuralmente sensible.