Kummari Venkateswaramma1, B.Vishala1, Sabbi Vamshi Krishna2, Sandip Swarnakar3*
Debido a sus propiedades físicas peculiares, el dióxido de titanio (TiO2) ha encontrado varias aplicaciones y ha sido un material interactivo para la investigación en el campo de la física de semiconductores. Para estudiar la naturaleza cristalográfica de Fe/TiO2 y Ni-Fe/TiO2 preparados, se realizó un estudio de difracción de rayos X (DRX). El resultado muestra que tanto las muestras de TiO2 puro como las dopadas estaban en fase anatasa con ausencia de picos de difracción de Ni o Fe. Las imágenes de microscopía electrónica de barrido (SEM) revelaron que la morfología de la partícula se alteró por la incorporación de dopantes que actuaron como sitios de nucleación. También se llevaron a cabo las propiedades dieléctricas y la conductividad eléctrica para TiO2 y la composición de Fe, Ni y Ni-Fe cargada con TiO2 dentro del rango de temperatura de 25 °C a 110 °C y en el rango de frecuencia (100 Hz a 0,3 MHz). Los valores de la constante dieléctrica y la pérdida dieléctrica disminuyen con el aumento de la frecuencia. La permitividad dieléctrica del Fe/TiO2 presenta una constante dieléctrica relativamente más baja que la del Ni-Fe/TiO2. Se ha reconocido un pico de relajación que se desplaza a una frecuencia más alta con el aumento de la temperatura. Se descubrió que la conductividad de CA aumenta con la frecuencia, lo que podría estar relacionado con el proceso de conducción por saltos. La energía de activación Ea del Fe/TiO2 fue más alta que la del Ni-Fe/TiO2 y disminuyó con el aumento de la frecuencia.